高壓臺(tái)式源表
S3030F
標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)式原表
特點(diǎn)
高量程
量程：±3500 V、±120 mA（直流）、180 W
高分辨率
最小測(cè)量分辨率可達(dá)10 fA/100 uV
高采樣率
最高可支持1M的ADC采樣率
閾值觸發(fā)
硬件高速IO，可實(shí)現(xiàn)閾值觸發(fā)，實(shí)現(xiàn)輸出測(cè)量值和用戶系統(tǒng)的高效交互功能與優(yōu)勢(shì)
直流I-V輸出能力
|
電流設(shè)置精度 |
量程 |
設(shè)置分辨率 |
精度(1年) ±(% 讀數(shù)+偏置) |
典型噪聲(有效值)0.1Hz-10Hz |
|
±120 mA[1] |
3 uA |
0.02% + 35 μA |
120 uA |
|
|
±20 mA |
400 nA |
0.02% + 15 μA |
20 uA |
|
|
±1 mA |
20 nA |
0.02% + 300 nA |
1 uA |
|
|
±100 μA |
2 nA |
0.02% + 30 nA |
100 nA |
|
|
±10 μA |
200 pA |
0.03% + 5 nA |
10 nA |
|
|
±1 μA |
20 pA |
0.03% + 1 nA |
1 nA |
|
|
±100 nA |
2 pA |
0.2% +100 pA+Vo x 100 fA |
100 pA |
|
|
±10 nA |
200 fA |
0.2% + 10 pA+ Vo x 10 fA |
10 pA |
|
|
溫度系數(shù) |
±(0.15 × 精度指標(biāo))/°C (0℃-18℃,28℃-50℃) |
|||
|
設(shè)置時(shí)間 |
<10 ms (典型值) |
|||
|
過沖 |
<±1% (典型值，Normal,步進(jìn)是范圍的 10% 至 90%，滿量程點(diǎn)，電阻性負(fù)載測(cè)試) |
|||
【1】 120mA量程僅支持1500V及以下電壓量程
|
|
量程 |
顯示分辨率 |
精度(1年) ±(%讀數(shù)+偏置) |
|
±120 mA【1】 |
100 nA |
0.02% + 35 μA |
|
|
±20 mA |
10 nA |
0.02% + 15 μA |
|
|
±1 mA |
1 nA |
0.02% + 300 nA |
|
|
±100 μA |
100 pA |
0.02% + 30 nA |
|
|
±10 μA |
10 pA |
0.03% + 5 nA |
|
|
±1 μA |
1 pA |
0.03% + 1 nA |
|
|
±100 nA |
100 fA |
0.2% +100 pA+Vo x 100 fA |
|
|
±10 nA |
10 fA |
0.2% + 10 pA+ Vo x 10 fA |
|
|
溫度系數(shù) |
±(0.15 × 精度指標(biāo))/°C (0℃-18℃,28℃-50℃) |
||
【1】 120mA量程僅支持1500V及以下電壓量程
同類推薦
光通信網(wǎng)絡(luò)作為信息通信的基礎(chǔ)設(shè)施，對(duì)我國(guó)大數(shù)據(jù)、云計(jì)算、5G通信等市場(chǎng)的快速發(fā)展起重要的承載支撐作用，聯(lián)訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產(chǎn)品的測(cè)試測(cè)量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長(zhǎng)計(jì)，光譜儀，流量?jī)x以及通用光測(cè)量?jī)x表等，提供經(jīng)濟(jì)高效的完整解決方案。
Details
半導(dǎo)體前道檢測(cè)主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計(jì)的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測(cè)試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測(cè)試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測(cè)。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)等集成解決方案，能夠滿足客戶日益增長(zhǎng)的多樣化需求。
Details關(guān)注
姓名
郵箱地址
郵箱驗(yàn)證碼
電話
密碼
確認(rèn)密碼
郵箱地址
郵箱驗(yàn)證碼
新密碼
確認(rèn)密碼
手冊(cè)CN
申請(qǐng)樣機(jī)
