發(fā)布日期：2024.12.13
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2024年12月11日至12日，備受矚目的ICCAD-Expo 2024大會(huì)在上海舉行。為期兩天的活動(dòng)吸引了國(guó)內(nèi)外有關(guān)專家、學(xué)者、行業(yè)廠商代表等6000余人，共同見證了中國(guó)集成電路產(chǎn)業(yè)的最新成果和技術(shù)創(chuàng)新。有專家深入剖析了芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域的最新趨勢(shì)，指出隨著人工智能等數(shù)字技術(shù)的不斷革新，算力產(chǎn)業(yè)正步入一個(gè)前所未有的高速發(fā)展期。據(jù)中國(guó)信息通信研究院測(cè)算，預(yù)計(jì)未來5年全球算力規(guī)模將以超過50%的速度增長(zhǎng)。全國(guó)一體化算力網(wǎng)建設(shè)將激活算力產(chǎn)業(yè)廣闊的市場(chǎng)空間，通用算力、智能算力、先進(jìn)算力、綠色算力及數(shù)據(jù)中心建設(shè)，將加速形成巨大的增量市場(chǎng)。
01，聯(lián)訊熱門產(chǎn)品
WAT6600
系列通用并行WAT測(cè)試機(jī)
WAT6600系列最多支持48 通道高性能Perpin SMU與Perpin PGU；系統(tǒng)所配置Perpin SMU輸出最大電壓±200V，最大電流±1A，最小電流精度1pA，Perpin PGU輸出最大電壓±20V，可同時(shí)滿足寬功率范圍與微弱電流測(cè)試指標(biāo)；還可依據(jù)客戶的產(chǎn)品及測(cè)試需求，選擇不同的配置，實(shí)現(xiàn)針對(duì)不同產(chǎn)品工藝，產(chǎn)品類型，測(cè)試電流、電壓級(jí)別的適配。
S2036H 雙通道精密電源/測(cè)量單元
S0342CPXIe模塊化源表
基于模擬控環(huán)路技術(shù)，實(shí)現(xiàn)多通道的電壓電流輸出。符合標(biāo)準(zhǔn)PXIe協(xié)議，支持現(xiàn)有主流PXIe機(jī)箱，集成度高，支持同步測(cè)試。為用戶提供同時(shí)4個(gè)相同通道±30V、±500mA（直流/脈沖）輸出，最大采樣率500KS/s，最小測(cè)量分辨率100 pA/60μV。
02，現(xiàn)場(chǎng)回顧
展會(huì)現(xiàn)場(chǎng)，聯(lián)訊儀器的各類源表（SMU）引起了眾多參展者的關(guān)注。其中，超高精度SMU擁有1fA/100nV的分辨率，不僅分辨率驚人，而且擁有出色的性能參數(shù)，還具備極低的噪聲水平、以及卓越的線性度和穩(wěn)定性，這些特點(diǎn)共同確保了其在高精度測(cè)量領(lǐng)域的卓越表現(xiàn)。聯(lián)訊儀器結(jié)構(gòu)緊湊、經(jīng)濟(jì)高效的PXle插卡式源表系列也備受矚目，產(chǎn)品采用了PXIe平臺(tái)技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了高密度、高性能的模塊化設(shè)計(jì)。單卡最多可支持12通道，這一特點(diǎn)使得用戶可以更加靈活地配置測(cè)試系統(tǒng)，滿足多通道測(cè)量的需求。此外，多卡同步功能更是為大規(guī)模并行測(cè)試提供了強(qiáng)有力的支持，極大地提高了測(cè)試效率。
面對(duì)部分客戶對(duì)聯(lián)訊儀器的WAT6600系列通用并行WAT測(cè)試機(jī)以及硅光晶圓測(cè)試系統(tǒng)所展現(xiàn)出的濃厚興趣，我們深感榮幸并高度重視這份信任與關(guān)注。為此，我們的技術(shù)人員在現(xiàn)場(chǎng)詳盡地向客戶闡述了這些設(shè)備的核心性能指標(biāo)，以期更好地滿足客戶的測(cè)試需求。
聯(lián)訊儀器在ICCAD 2024的亮相，全方位展現(xiàn)了公司在技術(shù)研發(fā)以及市場(chǎng)開拓的綜合實(shí)力。聯(lián)訊將繼續(xù)秉承創(chuàng)新驅(qū)動(dòng)的發(fā)展理念，不斷追求技術(shù)突破。
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