聯(lián)訊儀器12月活動集錦:聚焦半導(dǎo)體技術(shù)前沿,洞悉海量測試機遇

2024.12.07
12月11日起,聯(lián)訊儀器將在兩大展會——上海ICCAD-Expo與東京SEMICON Japan上,展示3500V高壓源表S3030F、臺式200V單/雙通道精密源表、封裝級可靠性測試設(shè)備PLR0010、半導(dǎo)體參數(shù)測試WAT系列以及PXIe插卡式高精度精密源表等。參展產(chǎn)品作為支撐半導(dǎo)體測試與可靠性評估的利器, 將帶給專業(yè)觀眾全新的測試體驗。聯(lián)訊儀器誠邀您蒞臨展會現(xiàn)場,共同聚焦半導(dǎo)體技術(shù)的最新動態(tài),洞悉測試領(lǐng)域的廣闊機遇。