2024.10.10?SiC（碳化硅）晶圓級別老化的意義在于通過提前識別和消除潛在失效機(jī)制，提高最終器件的可靠性和性能穩(wěn)定性，同時(shí)降低失效率，減少售后維護(hù)成本。
老化測試有助于在生產(chǎn)過程中發(fā)現(xiàn)問題，從而提高生產(chǎn)效率，避免資源浪費(fèi)。此外，具備高可靠性和穩(wěn)定性的SiC器件在市場上更具競爭力，能夠滿足對高性能和高效能電源管理日益增長的需求。
聯(lián)訊儀器晶圓級老化系統(tǒng)可提供全自動(dòng)化的SiC WLBI解決方案。具備超高的老化產(chǎn)能；可以根據(jù)不同產(chǎn)品的老化需求，設(shè)置老化條件；可對每個(gè)Die閾值電壓(Vth)進(jìn)行精確測試；系統(tǒng)的每個(gè)通道配備了獨(dú)立的過流保護(hù)功能，可確保被測器件的安全；系統(tǒng)可與客戶EAP對接，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)數(shù)據(jù)的管理；系統(tǒng)自動(dòng)生成MAP數(shù)據(jù)，以便用戶進(jìn)行深入的性能分析和質(zhì)量控制。
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