半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試
WAT6600
通用并行WAT測(cè)試機(jī)
特點(diǎn)
自研核心儀表
Perpin源表,Perpin高壓脈沖源資源能力強(qiáng)
Perpin SMU輸出能力200V max, 1A max Perpin PGU輸出能力±20V(開路)靈活配置Pin數(shù)
最多支持48Pin全開爾文連接高精度
精度可達(dá)1pA,系統(tǒng)漏電流<500fA適配主流48Pin圓形針卡
低成本串并測(cè)試轉(zhuǎn)換支持SECS/GEM
可接入客戶EAP,集成CAL/DIAG/PV軟件
支持用戶測(cè)試日志可自定義,高適配、兼容度高
支持所有主流Prober
WAT6600系列型號(hào)
序號(hào) |
型號(hào) |
名稱 |
描述 |
1 | WAT6610 | 通用并行WAT測(cè)試機(jī) | 200V,1Adc,100nV/1fA,48Pins,Perpin SMU&Perpin PGU |
序號(hào) |
系統(tǒng)大類 |
子類 |
描述 |
1 |
并行WAT測(cè)試系統(tǒng)機(jī)架 |
系統(tǒng)主機(jī)柜 |
包括機(jī)柜,EMO模塊,電源分配單元 |
工作站及系統(tǒng)軟件 |
Win10工作站,ptSemight測(cè)試軟件 |
||
電容表 |
外購(gòu)(可選配): 1fF~100nF測(cè)量范圍 |
||
電壓表 |
外購(gòu)(可選配): 7位半以上分辨率 |
||
信號(hào)分析儀 |
外購(gòu)(可選配): 9K~20M頻率范圍 |
||
PXIe機(jī)箱 |
外購(gòu)(可選配): 適配SPGU數(shù)量 |
||
SPGU |
Semight(可選配): 占位2槽,±40V(開路), ±20V(50?) |
||
2 |
并行WAT測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試頭 |
測(cè)試頭主機(jī) |
包括測(cè)試頭主機(jī)機(jī)體,根據(jù)輸出通道配置Pinboard數(shù)量 |
Pinboard |
S2018G(可選配): 每通道Pinboard包含Perpin SMU與Perpin PGU Perpin SMU: ±200V,±1A,100nV/1fA Perpin PGU: ±20V(開路) |
||
外部?jī)x表接口 |
默認(rèn)配置: 8通道BNC輸入接口 |
測(cè)試目標(biāo) |
|
Si/GaN/SiC等半導(dǎo)體器件的晶圓級(jí)WAT測(cè)試、WLR測(cè)試 |
|
測(cè)試項(xiàng)目(不限于) |
|
IV/CV |
Id-Vd,Id-Vg,Vth,BV,Ig,Ioff,Gm |
MIM_CAP,C & G |
|
Ic-Vc,BETA,BV |
|
Ron,R_tlm,Rsh_van |
|
Spot,Sweep,Search |
|
Kelvin & Non-Kelvin |
|
Differential Voltage |
|
頻率 |
Frequency |
可靠性 |
HCI,BTI/NBTI,TDDB |
Perpin直流測(cè)試 |
|
測(cè)試儀表 |
Semight S2018G |
測(cè)試功能 |
單點(diǎn),掃描等 |
測(cè)試范圍 |
S2018G:1fA to 1A 100nV to 200V |
Perpin高速脈沖信號(hào)產(chǎn)生 |
|
信號(hào)發(fā)生器 |
Semight S2018G |
信號(hào)幅度 |
±20V(開路) |
信號(hào)頻率 |
0.1Hz to 5MHz |
信號(hào)脈寬 |
100 ns to (脈沖周期 – 100 ns) |
信號(hào)邊沿 |
<100 ns(典型值50ns) |
外部高速脈沖信號(hào)產(chǎn)生 |
|
信號(hào)發(fā)生器 |
Semight S3023P |
信號(hào)幅度 |
±40V(開路), ±20V(50Ω負(fù)載) |
信號(hào)頻率 |
0.1Hz to 10MHz |
信號(hào)脈寬 |
60 ns to (脈沖周期 - 60 ns) |
信號(hào)邊沿 |
20 ns(Vamp < 5V, 負(fù)載開路) |
電容測(cè)試 |
|
測(cè)試儀表 |
商用儀表 |
測(cè)試功能 |
C/G |
測(cè)試頻率 |
1kHz,10kHz,100kHz,and 1MHz |
測(cè)試范圍 |
1fF to 100nF |
直流偏置 |
±40 V |
差分電壓測(cè)試 |
|
測(cè)試儀表 |
商用儀表 |
測(cè)試范圍 |
1μV to 100V |
信號(hào)分析 |
|
分析儀表 |
商用儀表 |
頻率范圍 |
9K to 20M Hz |
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