半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試
WAT6300
高壓串行WAT測(cè)試機(jī)
特點(diǎn)
自研核心儀表
自研高、低壓源表資源能力強(qiáng)
Perpin SMU輸出能力200V/1A靈活配置Pin數(shù)
最多支持48Pin全開爾文連接觸精度高
精度可達(dá)1pA,系統(tǒng)漏電流<500fA支持SECS/GEM
可接入客戶EAP,方便遠(yuǎn)程監(jiān)控支持所有主流Prober
TEL P8XL/P12/P12XL/Precio XL, TSK UF200/UF3000/UF3000EX等適配主流48pin圓形針卡
低成本串并測(cè)試轉(zhuǎn)換高效的ptSemight軟件環(huán)境
自研高效并行算法
序號(hào) |
型號(hào) |
名稱 |
描述 |
1 |
WAT6300 |
垂直型高壓串行WAT測(cè)試機(jī) |
3500V,1Adc,100nV/1fA,48Pin[1],僅支持CHUCK高壓以及正面1路高壓 |
2 |
WAT6310 |
通用型中壓串行WAT測(cè)試機(jī) |
1800V,1Adc.100nV/1fA,48Pin[1],通用型 |
3 |
WAT6315 |
通用型中壓串行WAT測(cè)試機(jī) |
1800V,1Adc.100nV/1fA,48Pin[1] full kelvin,Cable Out,通用型 |
4 |
WAT6330 |
通用型高壓串行WAT測(cè)試機(jī) |
3500V,1Adc,100nV/1fA,24Pin,通用型 |
子類 |
描述 |
工作站及系統(tǒng)軟件 |
Win10工作站,ptSemight測(cè)試軟件 |
電容表 |
外購(可選配): 1fF~100nF測(cè)量范圍 |
電壓表 |
外購(可選配): 7位半以上分辨率 |
信號(hào)分析儀 |
外購(可選配): 9K~10M頻率范圍 |
垂直型高壓開關(guān)矩陣(WAT6300) |
RM1012-HV(可選配): 支持2通道低壓(200V),1通道高壓(3500V),1通道CMU輸入,內(nèi)置CMU的HV-bias可達(dá)3000V,兩通道高壓輸出 |
低壓低漏電流開關(guān)矩陣(WAT6300) |
RM1010-LLC(可選配): 低漏電流開關(guān)矩陣主機(jī),支持14通道輸入,最高4張R1010G-LLC子卡插入支持到48通道輸出[1] R1010G-LLC(可選配): 低壓低漏電流開關(guān)矩陣子卡,單張卡12通道輸出,200V,1A,<100fA@10V(低漏電流通道) |
通用型中壓開關(guān)矩陣(WAT6310/WAT6315) |
RM1014-MV(可選配): 通用型中壓開關(guān)矩陣主機(jī),支持12通道輸入,支兩通道1800V中壓輸入,最高4張R1014G-MV子卡插入支持到48通道輸出[1] R1014G-MV(可選配): 通用型中壓開關(guān)矩陣子卡,單張卡12通道輸出,每通道均支持1800V,1A,<1pA@10V(中壓輸入通道) |
通用型高壓開關(guān)矩陣(WAT6330) |
RM1013-HV(可選配): 通用型高壓開關(guān)矩陣主機(jī),支持10通道輸入,支兩通道3500V高壓輸入,最高3張R1013G-HV子卡插入支持到24通道輸出 R1013G-HV(可選配): 通用型高壓開關(guān)矩陣子卡,單張卡8通道輸出,每通道均支持3500V,1A,<1pA@10V(高壓輸入通道) |
高壓源測(cè)量單元(HVSMU) |
可選配: 3500V, 120mA, 100uV/10fA(Semight S3030F) 1100V, 1A, 100nV/10fA(商用儀表) |
PXIe機(jī)箱 |
適配SMU,SPGU數(shù)量的PXIe機(jī)箱 |
源測(cè)量單元(SMU) |
S2012C(可選配): 占位1槽,200V,1A,100nV/10fA S2016C(可選配): 占位1槽,200V,1A,100nV/1fA |
高壓脈沖發(fā)生單元(SPGU) |
S3023P(可選配): 占位2槽,±40V(Open), ±20V(50?) |
[1]48通道輸出電壓僅支持到600V,24通道輸出可支持到3500V
測(cè)試目標(biāo) |
|
Si/GaN/SiC等半導(dǎo)體器件的晶圓級(jí)WAT測(cè)試、WLR測(cè)試 |
|
測(cè)試項(xiàng)目(不限于) |
|
IV/CV |
Id-Vd,Id-Vg,Vth,BV,Ig,Ioff,Gm |
MIM_CAP,C & G |
|
Ic-Vc,BETA,BV |
|
Ron,R_tlm,Rsh_van |
|
Spot,Sweep,Search |
|
Kelvin & Non-Kelvin |
|
Differential Voltage |
|
頻率 |
Frequency |
可靠性 |
HCI,BTI/NBTI,TDDB |
直流測(cè)試 |
|
測(cè)試儀表 |
Semight S2012C,S2016C, S3030F, 商用儀表 |
測(cè)試功能 |
單點(diǎn),掃描等 |
測(cè)試范圍 |
S2012C:10fA to 1A 100nV to 200V |
S2016C: 1fA to 1A 100nV to 200V |
|
S3030F: 10fA to 120mA 100uV to 3500V |
|
商用儀表MVSMU: 10fA to 1A 100nV to 1000V |
|
電容測(cè)試 |
|
測(cè)試儀表 |
商用儀表 |
測(cè)試功能 |
C/G |
測(cè)試頻率 |
1kHz,10kHz,100kHz,and 1MHz |
測(cè)試范圍 |
1fF to 100nF |
常規(guī)直流偏置 |
±40 V |
高壓直流偏置 |
±3000 V |
差分電壓測(cè)試 |
|
測(cè)試儀表 |
商用DVM |
測(cè)試范圍 |
1μV to 100V |
高速脈沖信號(hào)產(chǎn)生 |
|
信號(hào)發(fā)生器 |
Semight S3023P |
信號(hào)幅度 |
±40V(開路), ±20V(50Ω負(fù)載) |
信號(hào)頻率 |
0.1Hz to 10MHz |
信號(hào)脈寬 |
60ns to (脈沖周期 - 60ns) |
信號(hào)邊沿 |
20ns(Vamp < 5V, 負(fù)載開路) |
信號(hào)分析 |
|
分析儀表 |
商用儀表 |
頻率范圍 |
9K to 10M Hz |
低壓低漏電流開關(guān)矩陣 |
|
開關(guān)矩陣 |
Semight RM1010-LLC |
輸出通道 |
x12, x24, x36, x48 |
輸入接口 |
最高支持8端口同時(shí)輸入,其中兩端口支持電漏電流輸入 |
最高14端口輸入,包含兩個(gè)四選一端口用于外部儀表的串行測(cè)試 |
|
垂直型高壓開關(guān)矩陣 |
|
開關(guān)矩陣 |
Semight RM1012-HV |
輸出通道 |
x2 |
輸入接口 |
最高支持4端口輸入,2通道低壓(200V),1通道高壓(3500V),1通道CMU輸入,內(nèi)置CMU HV-bias可達(dá)3000V |
通用型高壓開關(guān)矩陣 |
|
開關(guān)矩陣 |
Semight RM1013-HV |
輸出通道 |
x8, x16, x24,CHUCK |
輸入接口 |
最高10端口輸入,6端口同時(shí)輸入,包含兩個(gè)三選一端口用于外部儀表的串行測(cè)試,兩端口輸入電壓達(dá)3500V |
通用型中壓開關(guān)矩陣 |
|
開關(guān)矩陣 |
Semight RM1014-MV |
輸出通道 |
x12, x24, x36,x48 |
輸入接口 |
最高12端口輸入,8端口同時(shí)輸入,包含兩個(gè)三選一端口用于外部儀表的串行測(cè)試,兩端口輸入電壓達(dá)1800V |
同類推薦
關(guān)注
姓名
郵箱地址
郵箱驗(yàn)證碼
電話
密碼
確認(rèn)密碼
郵箱地址
郵箱驗(yàn)證碼
新密碼
確認(rèn)密碼