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晶圓級(jí)老化

WLR3500

晶圓級(jí)老化系統(tǒng)


WLR3500晶圓級(jí)老化系統(tǒng)是一款高端專(zhuān)業(yè)的SiC晶圓老化測(cè)試設(shè)備,能夠同時(shí)對(duì)6片晶圓進(jìn)行高溫柵極偏壓(HTGB)老化和高溫反向偏壓(HTRB)老化;老化測(cè)試時(shí)間范圍廣泛,從數(shù)分鐘到數(shù)十小時(shí),甚至可擴(kuò)展至數(shù)千小時(shí),可滿(mǎn)足不同產(chǎn)品的老化需求;可支持設(shè)置老化條件,同時(shí)可對(duì)每個(gè)Die的閾值電壓(Vth)進(jìn)行精確檢測(cè);系統(tǒng)的每個(gè)通道配備了獨(dú)立的過(guò)電流保護(hù)功能,可確保被測(cè)器件的安全;系統(tǒng)能夠生成映射分析數(shù)據(jù)(Map數(shù)據(jù)),以便用戶(hù)進(jìn)行深入的性能分析和質(zhì)量控制。該系統(tǒng)能夠?yàn)檠邪l(fā)應(yīng)用提供靈活的可配置選項(xiàng),同時(shí)也適用于高容量的生產(chǎn)應(yīng)用。








特點(diǎn)

  • 自動(dòng)切換老化

    系統(tǒng)同時(shí)支持最多6個(gè)晶圓的GB和RB老化自動(dòng)切換
  • 獨(dú)立控溫與加電

    每個(gè)抽屜都具備獨(dú)立的溫度控制和電力供應(yīng)系統(tǒng)
  • 寬電壓范圍

    系統(tǒng)支持HTGB電壓±70V和HTRB電壓<2000V
  • 支持多通道

    最多支持4320個(gè)(720*6)通道
  • 高精度測(cè)試

    老化過(guò)程中,測(cè)試漏電流的分辨率高達(dá)0.1nA
  • 氣體保護(hù)

    提供高可靠性的~3Bar大氣壓的氣體保護(hù)系統(tǒng)
  • 寬溫度范圍

    溫度控制范圍從40℃~175℃
  • 在線監(jiān)控與測(cè)試

    支持在線監(jiān)控Igss、Idss等關(guān)鍵參數(shù),并支持Vth測(cè)試

功能與優(yōu)勢(shì)

  • 產(chǎn)品配置

    整機(jī)最多可適配6個(gè)單層,每層適配一個(gè)夾具,且每層電路獨(dú)立控制,實(shí)現(xiàn)不同單層工作在不同模式,可以通過(guò)調(diào)用老化Plan進(jìn)行不同的老化驗(yàn)證。


WLR3500(RB+GB)系統(tǒng)配置如下:

序號(hào)

機(jī)型名稱(chēng)

產(chǎn)品描述

參數(shù)

1

晶圓級(jí)老化系統(tǒng)主機(jī)架

WLR3500-M

主機(jī)+軟件,HTGB+HTRB

備注:HTGB+HTRB:滿(mǎn)配6

2

晶圓級(jí)老化系統(tǒng)單層

WLR3500-L

- HTGBHTRB自動(dòng)可切換

- IgssIdss漏電配置可掃描

- 集成Vth參數(shù)測(cè)試

- 靈活配置老化計(jì)劃

- Map數(shù)據(jù)可以對(duì)接CP測(cè)試

- 高密度探針卡以及支持高壓Chuck

- 高精度和高可靠性加熱及溫控系統(tǒng)

- 6寸晶圓

- Full Touch, 一次老化所有Die,最高720個(gè)Die。

- 1年免費(fèi)維護(hù)

備注:HTGB+HTRB滿(mǎn)配6

3

晶圓級(jí)老化系統(tǒng)夾具

WLR3500-F

- 針對(duì)SiC晶圓老化HTGB+HTRB

- 6

4

晶圓上下料系統(tǒng)

AL3500A

- 可以輔助操作人員完成晶圓的對(duì)位和夾具的自動(dòng)安裝

- 支持6寸晶圓自動(dòng)Load/Unload



WLR3500(GB)系統(tǒng)配置如下:

序號(hào)

機(jī)型名稱(chēng)

產(chǎn)品描述

參數(shù)

1

晶圓級(jí)老化系統(tǒng)主機(jī)架

WLR3500-M

主機(jī)+軟件,HTGB

備注:可添加HTRBHTGB+HTRB:滿(mǎn)配6

2

晶圓級(jí)老化系統(tǒng)單層

WLR3500-L

- HTGBHTRB自動(dòng)可切換

- Igss漏電配置可掃描

- 集成Vth參數(shù)測(cè)試

- 靈活配置老化計(jì)劃

- MAP數(shù)據(jù)可以對(duì)接CP測(cè)試

- 高密度探針卡以及支持高壓Chuck

- 高精度和高可靠性加熱及溫控系統(tǒng)

- 6寸晶圓

- Full Touch, 一次老化所有Die,最高720個(gè)Die。

- 1年免費(fèi)維護(hù)

備注:可添加HTRB  HTGB+HTRB:滿(mǎn)配6

3

晶圓級(jí)老化系統(tǒng)夾具

WLR3500-F

- 針對(duì)SiC晶圓老化,HTGB+HTRB

- 6

4

晶圓上下料系統(tǒng)

AL3500A

- 可以輔助操作人員完成晶圓的對(duì)位和夾具的自動(dòng)安裝

- 支持6寸晶圓自動(dòng)Load/Unload



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