3月26日—28日，全球半導(dǎo)體行業(yè)年度盛會(huì)SEMICON China 2025在上海隆重舉辦。聯(lián)訊儀器作為國內(nèi)高端測試測量設(shè)備的供應(yīng)商，攜多款半導(dǎo)體測試解決方案重磅亮相，與全球產(chǎn)業(yè)鏈伙伴共探技術(shù)趨勢，收獲豐碩成果！

亮點(diǎn)展示

1.明星產(chǎn)品＆技術(shù)交流：

WAT通用并行測試系統(tǒng)（WAT6600）：

• 并行測試實(shí)行高效率

先進(jìn)的并行測試架構(gòu)（每引腳 HRSMU），實(shí)現(xiàn)測試效率提升50%，并保證精確性和可靠性。

• 可擴(kuò)展和靈活的設(shè)計(jì)

支持外部儀器，滿足各種測試應(yīng)用。

• 強(qiáng)大的測試能力

支持200V/1A SMU和+20V PSU輸出，最多48引腳全開爾文連接。

12通道 PXIe 精密源表（S2014C）：

• 12通道獨(dú)立/同步控制

支持多通道并行測試，可同時(shí)完成多顆器件或芯片的IV特性掃描，大幅提升測試效率。

• 10V/50mA寬動(dòng)態(tài)覆蓋

從微瓦級(jí)物聯(lián)網(wǎng)芯片到高密度集成電路，一卡滿足多樣化電壓電流測試場景。

• 1μV/1pA最小分辨率

電壓和電流的測量分辨率分別高達(dá)1μV和1pA，支持精準(zhǔn)測量，捕捉極小信號(hào)。

晶圓級(jí)老化系統(tǒng)（WLBI3810）：

• 自動(dòng)化和精確對準(zhǔn)

自動(dòng)化晶圓上下料，探針精度為10μm，確保效率和可靠性。

• 卓越的測量和分析

最高精度漏電流分辨率可以達(dá)到0.1nA；最高漏電流精度0.5nA。

• 高吞吐量，系統(tǒng)功能豐富

支持9片晶圓同時(shí)老化，每片晶圓最高支持4224個(gè)Die。

2. 媒體聚焦，品牌聲量升級(jí)

現(xiàn)場速覽

洞察與機(jī)遇

行業(yè)洞察：測試測量市場機(jī)遇

國產(chǎn)化加速：本土芯片企業(yè)對高性價(jià)比、定制化測試設(shè)備需求激增。

技術(shù)趨勢：3D IC、硅光芯片等新技術(shù)推動(dòng)測試精度與效率升級(jí)。