Q&A
Q&A
常見(jiàn)問(wèn)題
？Q
源表刷新率可以提升嗎？
？Q
為什源表掃描模式下出來(lái)的IV曲線如下圖，沒(méi)有曲線？
掃描模式不能用自動(dòng)量程，需要把電壓量程和電流量程設(shè)置成固定模式；如客戶需要從-1V掃描至1V,固定量程可以選擇1V
？Q
為什么兩臺(tái)不同源表測(cè)同一顆料的暗電流差異大？
修改量程，由于暗電流數(shù)值較小，需選用電流檔位選取10uA測(cè)量
？Q
誤碼儀測(cè)試，為什么GUI顯示誤碼65535及以上數(shù)字
誤碼偏大，誤碼測(cè)試溢出，注意設(shè)備接地。
？Q
誤碼測(cè)試儀表按照流程編寫ATE，為什么會(huì)概率出現(xiàn)測(cè)試過(guò)程中眼圖測(cè)試中斷情況
確認(rèn)靈敏度測(cè)試是否和眼圖測(cè)試同步進(jìn)行，在靈敏度測(cè)試過(guò)程中判斷失鎖情況下會(huì)執(zhí)行RELOCK指令，此操作會(huì)重新初始化TX端，若此時(shí)正在進(jìn)行眼圖測(cè)試，則會(huì)出現(xiàn)測(cè)試中斷。
？Q
為什么誤碼測(cè)試儀表自動(dòng)化誤碼測(cè)試總是讀取大誤碼
大概率是測(cè)試流程問(wèn)題，配置結(jié)束，開(kāi)始誤碼測(cè)試之前需要先判斷模塊鎖定狀態(tài)
？Q
為什么誤碼測(cè)試儀表?yè)Q了個(gè)臺(tái)位眼圖測(cè)試會(huì)劣化？
確認(rèn)測(cè)試環(huán)境沒(méi)問(wèn)題的情況下，需要根據(jù)環(huán)境和產(chǎn)品調(diào)節(jié)預(yù)加重，如下圖調(diào)節(jié)3Tap
？Q
使用誤碼測(cè)試儀表自帶trig，測(cè)試眼圖更換誤碼測(cè)試儀表通道后，trig無(wú)法鎖住，眼圖測(cè)試失敗。
？Q
誤碼測(cè)試儀表極性相反會(huì)通嗎？
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