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產(chǎn)品升級 | DCA6201-30/50GHz，實現(xiàn)更高精度且更優(yōu)成本的高速光電數(shù)字信號的測量
2024.11.02

聯(lián)訊儀器 DCA6201 采樣示波器基于等時采樣及重構眼圖技術，從而實現(xiàn)更高精度且更優(yōu)成本的高速光電數(shù)字信號的測量。今年10月，DCA6201在高性能基礎上再度升級，波長范圍800~1650nm、最大輸入5mW(+7dBm)、測量指標精度顯著提高，效率優(yōu)化提升近32%。

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展會預告| 聯(lián)訊儀器10月活動合集，邀您探討半導體及硅光晶圓測試領域的前沿技術
2024.10.12

金秋十月，碩果盈枝，聯(lián)訊儀器誠摯邀請您光臨在深圳、蘇州及日本名古屋舉辦的三大展會。作為測試測量行業(yè)的高端儀器設備供應商，我們精心準備了高壓源表、硅光晶圓測試系統(tǒng)、晶圓級老化系統(tǒng)等一系列高效、精準的解決方案，期待與您面對面交流，共探行業(yè)發(fā)展新機遇。

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新品發(fā)布 | 高速光模塊 All In One 測試方案介紹 (二）
2024.09.26

聯(lián)訊儀器800G光模塊測試儀是集光口誤碼分析儀(BERT)，三溫控制單元為一體的誤碼綜合測試系統(tǒng)，具備誤碼測試、FEC測試、TEC溫控、模塊信息監(jiān)視、CMIS協(xié)議項測試、MSA I/O測試等功能

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圓滿落幕 | 2024中國光博會展會回顧，聯(lián)訊儀器期待明年與您再會
2024.09.14

聯(lián)訊儀器最新推出的800G光模塊測試儀在深圳光博會上廣受關注

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精彩回顧 | SEMICON TAIWAN完美收官，聯(lián)訊硅光晶圓測試設備“星”品閃耀
2024.09.13

聯(lián)訊儀器攜先進硅光晶圓測試設備參加2024SEMICON TAIWAN，本屆展會包含硅光技術、先進封裝、光電共封裝（CPO）等熱門話題

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新品發(fā)布 | 高速光模塊 All In One 測試方案介紹 (一）
2024.09.02

聯(lián)訊儀器800G光模塊測試儀是集光口誤碼分析儀(BERT)，三溫控制單元為一體的誤碼綜合測試系統(tǒng)。集成多路誤碼儀，多路待測光模塊MCB，多路獨立控溫單元。

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邀請函|聯(lián)訊儀器攜多款光通信、電性能測試產(chǎn)品與您相約深圳CIOE
2024.08.25

作為光電領域最具影響力的綜合型展會，光博會全面覆蓋信息通信、精密光學、激光及智能制造、新型顯示等多個前沿板塊，是把握行業(yè)發(fā)展資訊和動態(tài)的絕佳交流平臺。

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展會前瞻|聯(lián)訊儀器攜先進測試設備與您相約SEMICON TAIWAN國際半導體展
2024.08.18

SEMICON TAIWAN國際半導體展將于2024年9月4-6日，在中國臺北南港展覽館舉辦。

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產(chǎn)品升級 | 56Gbaud CR6256！400G/800G單多模光模塊及接口的時鐘提取
2024.08.10

聯(lián)訊儀器CR6256是結構緊湊、經(jīng)濟高效的臺式高速信號時鐘恢復單元。支持24.33~56.25 Gbaud速率下的NRZ/PAM4信號時鐘提取，廣泛應用于400G/800G單多模光模塊及接口的時鐘提取

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