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半導體參數(shù)測試

WAT(Wafer Acceptance Test) 最高支持48Pin并可靈活配置， 兼容行業(yè)探針卡結(jié)構(gòu),支持所有類型的通用探針臺控制， 自研亞pA級精度源表， 支持串行和并行兩種測試方案。
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