光通信網(wǎng)絡(luò)作為信息通信的基礎(chǔ)設(shè)施，對(duì)我國(guó)大數(shù)據(jù)、云計(jì)算、5G通信等市場(chǎng)的快速發(fā)展起重要的承載支撐作用，聯(lián)訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產(chǎn)品的測(cè)試測(cè)量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長(zhǎng)計(jì)，光譜儀，流量?jī)x以及通用光測(cè)量?jī)x表等，提供經(jīng)濟(jì)高效的完整解決方案。

高精度源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身，廣泛應(yīng)用于各類分立元器件，光伏，新能源，電池等行業(yè)的高精度測(cè)試測(cè)量，聯(lián)訊儀器提供高精度的臺(tái)式源表及標(biāo)準(zhǔn)PXIe機(jī)箱的插卡式PXIe源表模塊，充分滿足各種不同測(cè)試場(chǎng)景的應(yīng)用。

激光器的老化及測(cè)試是保障激光器可靠性的重要方法，通過對(duì)CoC或者裸Die的測(cè)試，提早篩選出激光器生產(chǎn)過程中由于工藝工序的缺陷導(dǎo)致的早期失效產(chǎn)品。聯(lián)訊儀器提供從裸Die到CoC，從高溫到低溫-40℃的完整解決方案。聯(lián)訊儀器的激光芯片老化測(cè)試方案已獲得市場(chǎng)廣泛認(rèn)可。

半導(dǎo)體前道檢測(cè)主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計(jì)的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測(cè)試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測(cè)試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測(cè)。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)等集成解決方案，打破了國(guó)外企業(yè)的長(zhǎng)期壟斷，不斷提升國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體設(shè)備的進(jìn)口替代率。