通用誤碼分析儀
MBT3210
4x10G 誤碼分析儀
特點(diǎn)
速率范圍寬
支持 350 Mbps 到 15 Gbps 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試速率
支持并行測(cè)試
四通道可各自獨(dú)立也可四路同步測(cè)試
高速時(shí)鐘輸出
提供半速率時(shí)鐘（高速）和分觸發(fā)信號(hào)輸出（低速）
內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)
各個(gè)通道內(nèi)置時(shí)鐘數(shù)據(jù)恢復(fù)功能與優(yōu)勢(shì)
| 協(xié)議 | 速率 |
| Ethernet | 1.25/2.5/9.953/10.3125 Gbps |
| Fiber | 4.25/8.5/14.025 Gpbs |
| G.984.2 | 622 Mbps/2.488 Gbps |
| InfiniBand | 2.5/5/14.0625 Gbps |
| SONET/SDH | 622 Mbps/2.488 Gbps/9.953 Gbps/10.709 Gpbs/11.096 Gbps |
覆蓋速率范圍廣，支持多種協(xié)議
| 碼型發(fā)生器技術(shù)指標(biāo) | 輸出類型 | 差分 | AC耦合；100 Ω 終端 |
| 單端 | AC耦合；50 Ω 終端 | ||
| 輸出幅度 | 100~1200 mVp-p | 差分 | |
| 上升時(shí)間 | 30 ps | 20%~80% | |
| 抖動(dòng) | 1.5 ps | 均方根（RMS）抖動(dòng) | |
| 9 ps | 峰峰值抖動(dòng) | ||
| 時(shí)鐘通道 | 前面板提供半速率差分時(shí)鐘和分頻觸發(fā)信號(hào)輸出 | ||
| 誤碼探測(cè)通道 | 輸入類型 | 差分/單端 | |
| 阻抗 | 100 ? | ||
| 輸入幅度范圍 | 800 mVp-p | ||
| 靈敏度 | <100 mV | ||
| 時(shí)鐘模式 | 內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù) | ||
| 同步性 | 按等級(jí)，相位自動(dòng)同步 | ||
| 連接器 | 2.92 mm female，50 Ω | ||
| 通用指標(biāo) | 工作 | 0°C至+55°C，30%至80%相對(duì)濕度無冷凝 | |
| 儲(chǔ)存 | -30°C至70°C，10%至90%相對(duì)濕度無冷凝 | ||
| 海拔 | 工作高度：0m至2000m，儲(chǔ)存高度：0m至4600m | ||
| 電源 | LINE：100-240 VAC，50/60 Hz，250 W FUSE：T2AL 250 VAC |
||
| 尺寸 | 438*214*105 mm（帶把手和腳墊） | ||
| 重量 | 凈重 3.7 kg | ||
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光通信網(wǎng)絡(luò)作為信息通信的基礎(chǔ)設(shè)施，對(duì)我國(guó)大數(shù)據(jù)、云計(jì)算、5G通信等市場(chǎng)的快速發(fā)展起重要的承載支撐作用，聯(lián)訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產(chǎn)品的測(cè)試測(cè)量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長(zhǎng)計(jì)，光譜儀，流量?jī)x以及通用光測(cè)量?jī)x表等，提供經(jīng)濟(jì)高效的完整解決方案。
Details
半導(dǎo)體前道檢測(cè)主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計(jì)的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測(cè)試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測(cè)試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測(cè)。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)等集成解決方案，打破了國(guó)外企業(yè)的長(zhǎng)期壟斷，不斷提升國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體設(shè)備的進(jìn)口替代率。
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