特點(diǎn)
兼容性高
支持10.3125 Gbps及以下各種PON OLT 速率
支持Combo-PON 測試
雙reset信號，支持Combo-PON測試
SD 測試
每個(gè)通道單獨(dú)LOS監(jiān)測/SD監(jiān)測/LOS判斷
內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)
可工作在真實(shí)的長纖環(huán)境中，避免長纖對時(shí)延及抖動(dòng)的影響功能與優(yōu)勢
雙包測試
各數(shù)據(jù)包有不同衰減，不同數(shù)據(jù)包相位間存在跳變，數(shù)據(jù)包中存在長連“1”、“0”；
內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)，支持長纖測試
內(nèi)置時(shí)鐘恢復(fù)使得rBT1250可以工作在真實(shí)的長纖工作環(huán)境中，這在業(yè)內(nèi)普遍使用的其它方案中基本無法實(shí)現(xiàn)，因?yàn)槟切┫到y(tǒng)不支持時(shí)鐘恢復(fù)，不能夠適應(yīng)長纖對時(shí)延及抖動(dòng)的影響。| 輸出 | 差分 | 交流/直流 耦合；100 ?終端 |
| 單端 | 交流耦合；50 ?終端 | |
| 輸出幅度 | 100-600 mVp-p | 差分 |
| 輸出通道 | 3個(gè)獨(dú)立的通道 | 支持突發(fā)/連續(xù)模式信號產(chǎn)生 |
| 碼型 | PRBS7，23，31，用戶自定義碼型，CID碼型 | |
| 支持速率 | 1.25/2.5/9.953/10.3125 Gbps | |
| 上升時(shí)間 | <40 ps | 20%~80% |
| 抖動(dòng) | <12 ps | 峰峰值抖動(dòng) |
| 預(yù)加重(Pre&Post-Cursor) | 支持預(yù)加重調(diào)節(jié)，以改善測試電纜測試夾具對信號質(zhì)量的影響 | |
| 碼型序列 | 每通道支持獨(dú)立前導(dǎo)/靜負(fù)荷/保護(hù)時(shí)間碼型序列設(shè)置 | |
| CID碼型 | 支持注入長連續(xù)“1”碼、長連續(xù)“0”碼，64~88比特可調(diào) | |
| 連接器 | SMA | |
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rBT1250 X-PON突發(fā)信號誤碼測試儀-使用說明書同類推薦
光通信網(wǎng)絡(luò)作為信息通信的基礎(chǔ)設(shè)施，對我國大數(shù)據(jù)、云計(jì)算、5G通信等市場的快速發(fā)展起重要的承載支撐作用，聯(lián)訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產(chǎn)品的測試測量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長計(jì)，光譜儀，流量儀以及通用光測量儀表等，提供經(jīng)濟(jì)高效的完整解決方案。
Details
半導(dǎo)體前道檢測主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計(jì)的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測試機(jī)等集成解決方案，打破了國外企業(yè)的長期壟斷，不斷提升國產(chǎn)半導(dǎo)體設(shè)備的進(jìn)口替代率。
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