聯(lián)訊rBT2250突發(fā)誤碼儀

隨著10G PON網(wǎng)絡(luò)部署和實(shí)施，下一代50G PON網(wǎng)絡(luò)的標(biāo)準(zhǔn)也已經(jīng)完善：2018年，ITU/FSAN啟動了基于單波長50G PON標(biāo)準(zhǔn)的制定工作，命名為G.HSP（G.Higher Speed PON）。2019年，50G PON的總體需求G.9804.1發(fā)布，明確了單波長TDM PON架構(gòu)，以及上下行速率組合，此外，50G PON需要滿足與10G PON以及存量ODN的共存平滑演進(jìn)。2021年，ITU-T 50G PON系列標(biāo)準(zhǔn)正式發(fā)布，系列標(biāo)準(zhǔn)包括：總體需求標(biāo)準(zhǔn)修訂G.9804.1 AMD1、通用協(xié)議層標(biāo)準(zhǔn)G.9804.2，以及物理層標(biāo)G.9804.3。為了滿足下一代50G PON測試需求，聯(lián)訊儀器推出了rBT2250，專門針對下一代25G/50G PON光線路終端（OLT）測試的新型突發(fā)誤碼分析儀。

圖1 聯(lián)訊rBT2250 25G/50G 突發(fā)誤碼儀

50G PON 應(yīng)用場景

50G PON是接入網(wǎng)能力的全面提升，實(shí)現(xiàn)了大帶寬、低時延保障和通道化能力的全面提升，面向多應(yīng)用場景。

圖2 50G PON 全場景

50G PON采用單纖雙向傳輸，下行TDM時分復(fù)用，上行TDMA時分多址接入，實(shí)現(xiàn)OLT和ONU之間的點(diǎn)到多點(diǎn)通信，在PON系統(tǒng)中，光網(wǎng)絡(luò)單元ONU通過光纖和耦合器共享一個光線路終端OLT，上行數(shù)據(jù)的傳輸采用時分復(fù)用的方式共享上行信道，對于發(fā)射上行數(shù)據(jù)的光發(fā)射機(jī)來說，它發(fā)射的是突發(fā)包信號。目前因?yàn)槭艿胶诵男酒捌骷南拗疲?0G PON目前階段還是以非對稱：下行50G連續(xù)/上行25G突發(fā)為主。

圖3 50G PON 架構(gòu)

50G PON 測試挑戰(zhàn)

因傳輸路徑不同，各數(shù)據(jù)包有不同衰減，數(shù)據(jù)包中存在長連“1”、“0”，這些因素的影響使得OLT突發(fā)接收模塊接收的信號是特殊的突發(fā)光信號。

     圖4 不同幅度ONU信號

ONU 上行突發(fā)信號：

需要有和數(shù)據(jù)同步的使能控制信號；

需要能發(fā)送前導(dǎo)碼+PRBS數(shù)據(jù)的具有時序的數(shù)據(jù)包（幀結(jié)構(gòu)）

需要具有突發(fā)數(shù)據(jù)和同步使能控制信號的誤碼儀

圖5 突發(fā)誤碼儀雙突發(fā)測試

對于上行的突發(fā)信號，OLT接收模塊不僅要從不同功率衰減ONU1和ONU2突發(fā)信號中，迅速恢復(fù)出幅值相等的信號，而且要消除不同ONU的相位突變，即完成時鐘和相位的對齊，因此OLT輸出的信號應(yīng)該為幅值相等且時鐘和相位對齊的電信號，雙突發(fā)測試可以模擬兩路不同衰減的ONU傳輸測試。

需要突發(fā)誤碼儀在突發(fā)模式才能驗(yàn)證OLT接收機(jī)的性能，連續(xù)模式誤碼分析儀診斷不出來有問題的OLT

rBT2250 突發(fā)誤碼儀

針對上述測試需求，聯(lián)訊儀器rBT2250提供2個獨(dú)立的突發(fā)碼型發(fā)生器和誤碼探測器通道，支持連續(xù)模式或突發(fā)模式誤碼分析，具有兩路突發(fā)時分碼型序列產(chǎn)生和誤碼分析能力。碼型時序靈活可調(diào)，并針對器件測試需求，給相應(yīng)測試通道提供同步的激光器使能、復(fù)位信號等低速控制通道。而且rBT2250內(nèi)置時鐘恢復(fù)，可以自動測距，對長纖測試毫無問題。從而大大簡化測試設(shè)置、連接、占地空間以及測試成本。

圖6 rBT2250 軟件主測試界面

產(chǎn)品特點(diǎn)

支持突發(fā)或連續(xù)模式信號輸出及誤碼測試；

突發(fā)模式支持速率：9.953Gbps/10.3125Gbps/12.4416Gbps/24.8832Gbps；

多通道配置：

集成2個獨(dú)立的高速突發(fā)數(shù)據(jù)通道，

支持2路突發(fā)時序可配置的碼型發(fā)生器通道和1路突發(fā)誤碼測試通道；

支持2路同步的ONU激光器使能控制通道，控制電平需要LVTTL 3.3V，不需外接電平轉(zhuǎn)換；

支持1路雙復(fù)位控制通道：復(fù)位位置可調(diào)，復(fù)位寬度可調(diào)；

支持1路RSSI Trigger：且 RSSI Trigger 位置及脈沖寬度可調(diào)；

可增加額外連續(xù)碼型發(fā)生器通道：可以選擇雙25G NRZ通道、50G PAM4通道或者50G NRZ通道；

支持LOS測量：每個測試通道單獨(dú)具備LOS監(jiān)測通道，可以監(jiān)測SD（Signal Detect）信號，判斷LOS；

支持CDR（時鐘恢復(fù)）：同OLT設(shè)備類似，每次接收都會進(jìn)行時鐘恢復(fù)；內(nèi)置時鐘恢復(fù)使得rBT2250可以工作在真實(shí)的長纖工作環(huán)境中，這在業(yè)內(nèi)普遍使用的其他方案中基本無法實(shí)現(xiàn)，因?yàn)槟切┫到y(tǒng)不支持時鐘恢復(fù)，長纖對時延的及抖動的影響使其不能工作。

圖7 聯(lián)訊25G OLT整體測試方案

OLT 整體測試方案中，rBT2250突發(fā)誤碼儀同時支持2路突發(fā)信號，模擬2個ONU的雙包突發(fā)測試，50G 光采樣示波器支持OLT TX端連續(xù)模式光眼圖測試。

關(guān)于聯(lián)訊

聯(lián)訊儀器位于蘇州高新區(qū)湘江路1508號，是國內(nèi)高端測試儀器和設(shè)備提供商。聯(lián)訊儀器主要專注于高速通信測試，光芯片測試和半導(dǎo)體測試三大領(lǐng)域，可以提供包括高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)測試儀、寬帶采樣示波器、高精度波長計(jì)、光譜儀，通用數(shù)字源表等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE， 激光器芯片老化機(jī)，激光器芯片測試機(jī)，硅光晶圓測試機(jī)，功率芯片測試機(jī)，晶圓老化機(jī)，半導(dǎo)體參數(shù)測試機(jī)等高端測試設(shè)備。

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