特點(diǎn)
功率監(jiān)控功能
支持輸入輸出功率監(jiān)控，監(jiān)控功率范圍:+0~-50 dBm
并行測試
支持多通道并行測量，提高測試效率
功率鎖定
支持衰減模式和功率控制模式，在功率控制模式下自動保持輸出功率恒定
友好的用戶界面
易于使用和直觀的圖形用戶界面| 帶功率監(jiān)控 | 1,2,4,8 通道可選 |
| 連接器類型 | FC/UPC or FC/APC |
| 光電探測器尺寸 | 50/125 μm |
| 波長 | 850 nm |
| 可調(diào)范圍 | 0~40 dB |
| 步進(jìn) | 0.1 dB |
| 衰減精確度（典型值） | ±0.2 dB |
| 重復(fù)性 | <0.1 dB |
| 插損 | ≤1.5 dB（不帶功率監(jiān)控） or ≤2.5 dB(帶功率監(jiān)控) |
| 功率檢控范圍 | 0 ~ -50 dBm |
| 功率顯示的準(zhǔn)確性 | 3% |
| 回波損耗 | Typ. 25 dB |
| 最大安全輸入功率 | +23 dBm |
| LCD尺寸 | 3.5-inch TFT |
| 連接方式 | LAN, USB |
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光通信網(wǎng)絡(luò)作為信息通信的基礎(chǔ)設(shè)施，對我國大數(shù)據(jù)、云計(jì)算、5G通信等市場的快速發(fā)展起重要的承載支撐作用，聯(lián)訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產(chǎn)品的測試測量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長計(jì)，光譜儀，流量儀以及通用光測量儀表等，提供經(jīng)濟(jì)高效的完整解決方案。
Details
半導(dǎo)體前道檢測主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計(jì)的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測試機(jī)等集成解決方案，打破了國外企業(yè)的長期壟斷，不斷提升國產(chǎn)半導(dǎo)體設(shè)備的進(jìn)口替代率。
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