通用光儀表
AT430X
單模光衰減器
AT430X系列單模衰減器是一種用于光收發(fā)器和網(wǎng)絡(luò)集成測(cè)試的設(shè)備，可在0-40dB范圍內(nèi)任意調(diào)節(jié)衰減，集成輸入輸出光功率監(jiān)控，可在調(diào)節(jié)衰減過(guò)程中實(shí)時(shí)監(jiān)控功率的變化，進(jìn)一步提高測(cè)試效率。設(shè)備支持USB和LAN通訊接口，提供指令集及可調(diào)用動(dòng)態(tài)鏈接庫(kù)，方便開(kāi)發(fā)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)。
聯(lián)訊儀器AT430X系列衰減器支持衰減模式和功率控制模式，支持開(kāi)環(huán)閉環(huán)模式切換。
特點(diǎn)
功率監(jiān)控功能
支持輸入輸出功率監(jiān)控，監(jiān)控功率范圍:+10~-50 dBm
并行測(cè)試
支持多通道并行測(cè)量，提高測(cè)試效率
功率鎖定
支持衰減模式和功率控制模式，在功率控制模式下自動(dòng)保持輸出功率恒定
友好的用戶(hù)界面
易于使用和直觀的圖形用戶(hù)界面| 帶功率監(jiān)控 | 1,2,4,8 通道可選 |
| 連接器類(lèi)型 | FC/UPC or FC/APC |
| 光電探測(cè)器尺寸 | 9/125 μm |
| 波長(zhǎng) | 1250~1650 nm |
| 校準(zhǔn)波長(zhǎng) | 1270/1290/1310/1330/1490/1550 nm |
| 可調(diào)范圍 | 0~40 dB |
| 步進(jìn) | 0.1 dB |
| 精確度 | ±0.2 dB |
| 重復(fù)性 | <0.1 dB |
| 插損 | ≤1.2 dB |
| 功率監(jiān)控范圍 | +10~-50 dBm |
| 功率顯示的準(zhǔn)確性 | 3% |
| 回波損耗 | 45 dB |
| 最大安全輸入功率 | +23 dBm |
| LCD 尺寸 | 3.5-inch TFT |
| 連接方式 | LAN, USB |
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Details
半導(dǎo)體前道檢測(cè)主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計(jì)的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測(cè)試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測(cè)試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測(cè)。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)等集成解決方案，打破了國(guó)外企業(yè)的長(zhǎng)期壟斷，不斷提升國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體設(shè)備的進(jìn)口替代率。
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