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半導(dǎo)體參數(shù)測試

WAT6300

高壓串行WAT測試機(jī)


聯(lián)訊儀器 WAT6300是一臺串行高壓半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng),可選配實(shí)現(xiàn)垂直型及通用型高壓測試,可以快速的執(zhí)行精確的高低壓直流測量、電容測量等。垂直型測試系統(tǒng)內(nèi)置一臺低壓低漏電矩陣和一臺單路輸出至CHUCK的垂直型高壓矩陣,系統(tǒng)在高壓3500V使用條件下最多可擴(kuò)展24通道輸出,在600V使用條件下最多可擴(kuò)展48通道輸出,可滿足中高壓多通道的測試需求。通用型測試系統(tǒng)內(nèi)置一臺通用高壓開關(guān)矩陣,最大可擴(kuò)展24通道及CHUCK輸出,所有通道輸出電壓均可高達(dá)3500V,可用于平面型與垂直型的器件測試。垂直型與通用型系統(tǒng)均配置高低壓保護(hù)電路,提高系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定性。



特點(diǎn)


  • 自研核心儀表

    自研高、低壓源表,高、低壓電漏電流開關(guān)矩陣,
    自主可控,降低用戶供應(yīng)鏈的交付風(fēng)險(xiǎn)
  • 資源能力強(qiáng)

    高壓SMU輸出能力3500V max, 120mA max,
    全面覆蓋當(dāng)前主流SiC, GaN器件電壓需求
  • 靈活配置Pin數(shù)

    最多支持48Pin全開爾文連接
  • 精度高

    精度可達(dá)1pA,系統(tǒng)漏電流<1pA
    可測量更低級別的漏電流參數(shù)
  • 支持SECS/GEM

    可接入客戶EAP,方便遠(yuǎn)程監(jiān)控,提升工作效率
  • 支持所有主流Prober

    TEL P8XL/P12/P12XL/Precio XL, TSK UF200/UF3000/UF3000EX等
  • 適配主流48pin圓形針卡

    低成本串并測試轉(zhuǎn)換
  • 高效的ptSemight軟件環(huán)境

    自研高效并行算法
    集成CAL/DIAG/PV軟件

系統(tǒng)配置

序號

系統(tǒng)大類

子類

描述

1

串行WAT測試系統(tǒng)機(jī)架

系統(tǒng)主機(jī)柜

包括機(jī)柜,EMO模塊,電源分配單元

工作站及系統(tǒng)軟件

Win10工作站,ptSemight測試軟件

電容表

外購(可選配):

1fF~100nF測量范圍

電壓表

外購(可選配):

7位半以上分辨率

信號分析儀

外購(可選配):

9K~10M頻率范圍

垂直型高壓開關(guān)矩陣

RM1012-HV(可選配):

支持2通道低壓(200V),1通道高壓(3500V),1通道CMU輸入,
內(nèi)置CMU的HV-bias可達(dá)3000V,1通道輸出至CHUCK

高壓源測量單元(HVSMU)

可選配:

3500V, 120mA, 100uV/10fA(Semight S3030F)

1100V, 1A, 100nV/10fA(商用儀表)

2

串行WAT測試系統(tǒng)測試頭

測試頭主機(jī)

PXIe機(jī)箱

包括測試頭主機(jī)機(jī)體,適配SMU,SPGU數(shù)量的PXIe機(jī)箱

低壓低漏電流開關(guān)矩陣

RM1010-LLC(可選配):

低漏電流開關(guān)矩陣主機(jī),支持14通道輸入,最高4張R1010G-LLC子卡插入支持到48通道輸出1

R1010G-LLC(可選配):

低壓低漏電流開關(guān)矩陣子卡,單張卡12通道輸出,200V,1A,<100fA@10V(低漏電流通道)

通用型高壓開關(guān)矩陣

RM1013-HV(可選配):

通用型高壓開關(guān)矩陣主機(jī),支持10通道輸入,支兩通道3500V高壓輸入,最高3張R1013G-HV子卡插入支持到24通道輸出

R1013G-HV(可選配):

通用型高壓開關(guān)矩陣子卡,單張卡8通道輸出,每通道均支持3500V,1A,<1pA@10V(高壓輸入通道)

源測量單元(SMU)

S2012C(可選配):

占位1槽,200V,1A,100nV/10fA

S2016C(可選配):

占位1槽,200V,1A,100nV/1fA

高壓脈沖發(fā)生單元(SPGU)

S3023P(可選配):

占位2槽,±40V(Open), ±20V(50?)

1、48通道輸出電壓僅支持到600V,24通道輸出可支持到3500V


系統(tǒng)功能概述

測試目標(biāo)

Si/GaN/SiC等半導(dǎo)體器件的晶圓級WAT測試、WLR測試

測試項(xiàng)目(不限于)

IV/CV

Id-Vd,Id-Vg,Vth,BV,Ig,Ioff,Gm

MIM_CAP,C & G

Ic-Vc,BETA,BV

Ron,R_tlm,Rsh_van

Spot,Sweep,Search

Kelvin & Non-Kelvin

Differential Voltage

頻率

Frequency

可靠性

HCI,BTI/NBTI,TDDB

直流測試

測試儀表

Semight S2012C,S2016C, S3030F, 商用儀表

測試功能

單點(diǎn),掃描等

測試范圍

S2012C:10fA to 1A 100nV to 200V

S2016C: 1fA to 1A 100nV to 200V

S3030F: 10fA to 120mA  100uV to 3500V

商用儀表: 10fA to 1A  100nV to 1000V

電容測試

測試儀表

商用儀表

測試功能

C/G

測試頻率

1kHz,10kHz,100kHz,and 1MHz

測試范圍

1fF to 100nF

常規(guī)直流偏置

±40 V

高壓直流偏置

±3000 V

差分電壓測試

測試儀表

商用儀表

測試范圍

1μV to 100V

高速脈沖信號產(chǎn)生

信號發(fā)生器

Semight S3023P

信號幅度

±40V(開路), ±20V(50Ω負(fù)載)

信號頻率

0.1Hz to 10MHz

信號脈寬

60ns to (脈沖周期 - 60ns)

信號邊沿

20ns(Vamp < 5V, 負(fù)載開路)

信號分析

分析儀表

商用儀表

頻率范圍

9K to 10M Hz

低壓低漏電流開關(guān)矩陣

開關(guān)矩陣

Semight RM1010-LLC

輸出通道

x12, x24, x36, x48

輸入接口

最高支持8端口同時(shí)輸入,其中兩端口支持電漏電流輸入

最高14端口輸入,包含兩個(gè)四選一端口用于外部儀表的串行測試

垂直型高壓開關(guān)矩陣

開關(guān)矩陣

Semight RM1012-HV

輸出通道

x1

輸入接口

最高支持4端口輸入,2通道低壓(200V),1通道高壓(3500V),1通道CMU輸入,內(nèi)置CMU HV-bias可達(dá)3000V

通用型高壓開關(guān)矩陣

開關(guān)矩陣

Semight RM1013-HV

輸出通道

x8, x16, x24,CHUCK

輸入接口

最高10端口輸入,6端口同時(shí)輸入,包含兩個(gè)三選一端口用于外部儀表的串行測試,兩端口輸入電壓達(dá)3500V

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