半導(dǎo)體參數(shù)測試
WAT6300
高壓串行WAT測試機(jī)
聯(lián)訊儀器 WAT6300是一臺串行高壓半導(dǎo)體參數(shù)測試系統(tǒng),可選配實(shí)現(xiàn)垂直型及通用型高壓測試,可以快速的執(zhí)行精確的高低壓直流測量、電容測量等。垂直型測試系統(tǒng)內(nèi)置一臺低壓低漏電矩陣和一臺單路輸出至CHUCK的垂直型高壓矩陣,系統(tǒng)在高壓3500V使用條件下最多可擴(kuò)展24通道輸出,在600V使用條件下最多可擴(kuò)展48通道輸出,可滿足中高壓多通道的測試需求。通用型測試系統(tǒng)內(nèi)置一臺通用高壓開關(guān)矩陣,最大可擴(kuò)展24通道及CHUCK輸出,所有通道輸出電壓均可高達(dá)3500V,可用于平面型與垂直型的器件測試。垂直型與通用型系統(tǒng)均配置高低壓保護(hù)電路,提高系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定性。
特點(diǎn)
自研核心儀表
自研高、低壓源表,高、低壓電漏電流開關(guān)矩陣,資源能力強(qiáng)
高壓SMU輸出能力3500V max, 120mA max,靈活配置Pin數(shù)
最多支持48Pin全開爾文連接精度高
精度可達(dá)1pA,系統(tǒng)漏電流<1pA支持SECS/GEM
可接入客戶EAP,方便遠(yuǎn)程監(jiān)控,提升工作效率支持所有主流Prober
TEL P8XL/P12/P12XL/Precio XL, TSK UF200/UF3000/UF3000EX等適配主流48pin圓形針卡
低成本串并測試轉(zhuǎn)換高效的ptSemight軟件環(huán)境
自研高效并行算法
序號 |
系統(tǒng)大類 |
子類 |
描述 |
1 |
串行WAT測試系統(tǒng)機(jī)架 |
系統(tǒng)主機(jī)柜 |
包括機(jī)柜,EMO模塊,電源分配單元 |
工作站及系統(tǒng)軟件 |
Win10工作站,ptSemight測試軟件 |
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電容表 |
外購(可選配): 1fF~100nF測量范圍 |
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電壓表 |
外購(可選配): 7位半以上分辨率 |
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信號分析儀 |
外購(可選配): 9K~10M頻率范圍 |
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垂直型高壓開關(guān)矩陣 |
RM1012-HV(可選配): 支持2通道低壓(200V),1通道高壓(3500V),1通道CMU輸入, |
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高壓源測量單元(HVSMU) |
可選配: 3500V, 120mA, 100uV/10fA(Semight S3030F) 1100V, 1A, 100nV/10fA(商用儀表) |
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2 |
串行WAT測試系統(tǒng)測試頭 |
測試頭主機(jī) PXIe機(jī)箱 |
包括測試頭主機(jī)機(jī)體,適配SMU,SPGU數(shù)量的PXIe機(jī)箱 |
低壓低漏電流開關(guān)矩陣 |
RM1010-LLC(可選配): 低漏電流開關(guān)矩陣主機(jī),支持14通道輸入,最高4張R1010G-LLC子卡插入支持到48通道輸出1 R1010G-LLC(可選配): 低壓低漏電流開關(guān)矩陣子卡,單張卡12通道輸出,200V,1A,<100fA@10V(低漏電流通道) |
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通用型高壓開關(guān)矩陣 |
RM1013-HV(可選配): 通用型高壓開關(guān)矩陣主機(jī),支持10通道輸入,支兩通道3500V高壓輸入,最高3張R1013G-HV子卡插入支持到24通道輸出 R1013G-HV(可選配): 通用型高壓開關(guān)矩陣子卡,單張卡8通道輸出,每通道均支持3500V,1A,<1pA@10V(高壓輸入通道) |
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源測量單元(SMU) |
S2012C(可選配): 占位1槽,200V,1A,100nV/10fA S2016C(可選配): 占位1槽,200V,1A,100nV/1fA |
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高壓脈沖發(fā)生單元(SPGU) |
S3023P(可選配): 占位2槽,±40V(Open), ±20V(50?) |
1、48通道輸出電壓僅支持到600V,24通道輸出可支持到3500V
測試目標(biāo) |
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Si/GaN/SiC等半導(dǎo)體器件的晶圓級WAT測試、WLR測試 |
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測試項(xiàng)目(不限于) |
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IV/CV |
Id-Vd,Id-Vg,Vth,BV,Ig,Ioff,Gm |
MIM_CAP,C & G |
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Ic-Vc,BETA,BV |
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Ron,R_tlm,Rsh_van |
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Spot,Sweep,Search |
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Kelvin & Non-Kelvin |
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Differential Voltage |
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頻率 |
Frequency |
可靠性 |
HCI,BTI/NBTI,TDDB |
直流測試 |
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測試儀表 |
Semight S2012C,S2016C, S3030F, 商用儀表 |
測試功能 |
單點(diǎn),掃描等 |
測試范圍 |
S2012C:10fA to 1A 100nV to 200V |
S2016C: 1fA to 1A 100nV to 200V |
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S3030F: 10fA to 120mA 100uV to 3500V |
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商用儀表: 10fA to 1A 100nV to 1000V |
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電容測試 |
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測試儀表 |
商用儀表 |
測試功能 |
C/G |
測試頻率 |
1kHz,10kHz,100kHz,and 1MHz |
測試范圍 |
1fF to 100nF |
常規(guī)直流偏置 |
±40 V |
高壓直流偏置 |
±3000 V |
差分電壓測試 |
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測試儀表 |
商用儀表 |
測試范圍 |
1μV to 100V |
高速脈沖信號產(chǎn)生 |
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信號發(fā)生器 |
Semight S3023P |
信號幅度 |
±40V(開路), ±20V(50Ω負(fù)載) |
信號頻率 |
0.1Hz to 10MHz |
信號脈寬 |
60ns to (脈沖周期 - 60ns) |
信號邊沿 |
20ns(Vamp < 5V, 負(fù)載開路) |
信號分析 |
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分析儀表 |
商用儀表 |
頻率范圍 |
9K to 10M Hz |
低壓低漏電流開關(guān)矩陣 |
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開關(guān)矩陣 |
Semight RM1010-LLC |
輸出通道 |
x12, x24, x36, x48 |
輸入接口 |
最高支持8端口同時(shí)輸入,其中兩端口支持電漏電流輸入 |
最高14端口輸入,包含兩個(gè)四選一端口用于外部儀表的串行測試 |
|
垂直型高壓開關(guān)矩陣 |
|
開關(guān)矩陣 |
Semight RM1012-HV |
輸出通道 |
x1 |
輸入接口 |
最高支持4端口輸入,2通道低壓(200V),1通道高壓(3500V),1通道CMU輸入,內(nèi)置CMU HV-bias可達(dá)3000V |
通用型高壓開關(guān)矩陣 |
|
開關(guān)矩陣 |
Semight RM1013-HV |
輸出通道 |
x8, x16, x24,CHUCK |
輸入接口 |
最高10端口輸入,6端口同時(shí)輸入,包含兩個(gè)三選一端口用于外部儀表的串行測試,兩端口輸入電壓達(dá)3500V |
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