2022.07.17?汽車不同于消費(fèi)級(jí)產(chǎn)品，會(huì)運(yùn)行在戶外、高溫、高寒、潮濕等苛刻的環(huán)境，且設(shè)計(jì)壽命一般為 15 年或 20 萬(wàn)公里，迭代周期會(huì)遠(yuǎn)高于消費(fèi)電子的2-3年，對(duì)環(huán)境、振動(dòng)、沖擊、可靠性和一致性要求也較高，因此車企通常會(huì)要求供應(yīng)商使用車規(guī)級(jí)元器件，以保證車載ECU產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。
車規(guī)級(jí)功率芯片對(duì)測(cè)試提出更高的需求：
更高電壓電流
SiC需要更高的測(cè)試電流和電壓測(cè)試
1700V MOSFET已成熟，后續(xù)3300V的需求
更高開關(guān)速度
SiC/Gan需要更高的開關(guān)速度測(cè)試
更高的可靠性
封裝前必須保障使用可靠性完全沒有問題的芯片進(jìn)行封裝
更高封裝密度
封裝前必須保障使用性能完全沒有問題的芯片進(jìn)行封裝
為滿足車規(guī)要求，功率器件的測(cè)試工序也更加嚴(yán)格，測(cè)試工序示意圖如下：
聯(lián)訊儀器以不斷填補(bǔ)國(guó)內(nèi)高端光電測(cè)試裝備的空白為使命，結(jié)合自身核心優(yōu)勢(shì)，如微弱信號(hào)的檢測(cè)，大功率信號(hào)檢測(cè)，復(fù)雜探針系統(tǒng)的設(shè)計(jì)等，先后開發(fā)出半導(dǎo)體芯片測(cè)試機(jī)（碳化硅KGD測(cè)試機(jī) PB6200&PT6200），晶圓級(jí)可靠性（碳化硅高壓晶圓老化 WLR3500）等設(shè)備，助力國(guó)產(chǎn)功率器件的高速高質(zhì)量發(fā)展！
服務(wù)熱線
關(guān)注
姓名
郵箱地址
郵箱驗(yàn)證碼
電話
密碼
確認(rèn)密碼
郵箱地址
郵箱驗(yàn)證碼
新密碼
確認(rèn)密碼
