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新品發(fā)布 | rBT3250-50G突發(fā)誤碼分析儀,支持突發(fā)和連續(xù)模式信號輸出及誤碼測試
2024.07.26
rBT3250是專門針對下一代25G/50G無源光網絡(PON)應用的光線路終端(OLT)測試新型突發(fā)誤碼分析儀,用于評估突發(fā)模式下的25G及50G OLT接收機性能。
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大放異彩!| 聯(lián)訊儀器源表系列在慕尼黑上海電子展中深得訪客“青睞”
2024.07.11
聯(lián)訊儀器堅持開發(fā)適應市場需求的新型測量儀器,并形成自身特色與規(guī)模。與此同時不斷突破創(chuàng)新,致力于填補國內高端測試儀器設備的空白。
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“e星球”| electronica China 2024開幕在即,聯(lián)訊儀器攜數(shù)臺爆款源表“來襲”!
2024.07.02
聯(lián)訊儀器此次設展于測試測量主題展區(qū),向各大展商與參展者展現(xiàn)公司最新研究成果及應用,為產業(yè)的進一步發(fā)展添磚加瓦!
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科技硬實力 | 聯(lián)訊儀器首次亮相PCIM Europe,引發(fā)行業(yè)關注!
2024.06.17
聯(lián)訊儀器攜帶最新SiC KGD PB6600測試系統(tǒng)、WLBI3800晶圓級老化系統(tǒng)以及WAT6300高壓串行參數(shù)測試系統(tǒng)亮相,吸引了眾多參展商的駐足、探尋,成為展會上的一大焦點,彰顯著中國智造的非凡實力。
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中國智造| 聯(lián)訊儀器攜最新SiC KGD測試系統(tǒng)亮相 PCIM Europe
2024.05.29
PCIM Europe是全球最大的功率半導體展會之一,創(chuàng)辦于1979年,今年是第46屆,展會將于6月11日,在德國紐倫堡展覽中心開幕。
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相聚馬來 年度盛會 | 聯(lián)訊儀器攜最新半導體測試系統(tǒng)亮相SEMICON SEA!
2024.05.17
5月28日——30日,聯(lián)訊儀器將攜帶最新半導體測試系統(tǒng)PB6600、晶圓級老化系統(tǒng)WLBI3800、高壓串行參數(shù)測試系統(tǒng)WAT6300測試方案出席本次盛會,歡迎參觀指導!
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聯(lián)訊儀器受邀參加臺灣第三屆化合物半導體國際論壇,并發(fā)表專題演講
2024.04.30
4月25日,由臺灣電子設備協(xié)會聯(lián)手國立臺灣大學工學院共同舉辦的第三屆化合物半導體國際論壇在臺北南港展覽館圓滿落下帷幕。本屆論壇旨在推動化合物半導體產業(yè)在臺灣的前進,邀請了海內外重量級講師就“化合物半導體”的應用市場、制造設備、測試設備以及第四代化合物半導體等相關話題進行交流。
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誠邀蒞臨|春風4月,聯(lián)訊儀器在福州、西安、蘇州、成都與您相約
2024.04.14
春和景明,萬物生長。時序更替,催人奮進。4月,聯(lián)訊儀器將攜帶多款精密儀器亮相福州、西安、蘇州、成都,歡迎大家前來參觀,共謀行業(yè)發(fā)展新篇章。
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誠邀蒞臨 | 聯(lián)訊儀器攜50G突發(fā)誤碼儀rBT3250亮相2024美國OFC !
2024.03.25
2024年美國光纖通訊展覽會(OFC)將于3月26日—28日在美國加州圣地亞哥隆重召開。聯(lián)訊儀器將攜帶50G采樣示波器DCA6201、56G波特率時鐘恢復CR6256、25G突發(fā)誤碼儀rBT2250、50G突發(fā)誤碼儀rBT3250、高精度臺式源表S2026H等產品參加展會,歡迎參觀指導!
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