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  • 新品 | 聯(lián)訊儀器 PXIe 精密源表S2013C,高速高精度測量!
    新品 | 聯(lián)訊儀器 PXIe 精密源表S2013C,高速高精度測量!
    2023.04.28
    聯(lián)訊儀器PXIe源測量單元(SMU)集成高精度源和測量單元,可利用PXIe源測量單元構建高密度并行測試系統(tǒng),以滿足大規(guī)模半導體集成電路的高通道密度,并增加配置的靈活性,最大化測試效率,降低測試成本。聯(lián)訊儀器PXIe SMU基于先進的數(shù)字控制技術,集成的Adaptive PFC(Precision-Fast Control)系統(tǒng)使用戶可根據(jù)負載特性,調(diào)整相關參數(shù)來獲得精確、快速的輸出特性,
  • 邀請函丨聯(lián)訊儀器與您相約第十一屆中國電子信息博覽會
    邀請函丨聯(lián)訊儀器與您相約第十一屆中國電子信息博覽會
    2023.04.07
    2023年4月7日 ~ 9日,第十一屆中國電子信息博覽會 (CITE2023) 將于深圳會展中心(福田)舉辦。作為展示全球電子信息產(chǎn)業(yè)最新產(chǎn)品和技術的國家級平臺,本屆博覽會以“創(chuàng)新引領,協(xié)同發(fā)展”為主題,在規(guī)模和內(nèi)容上再升級。通過 CITE主題館、新型顯示及應用館、半導體產(chǎn)業(yè)及應用館、電子生活生態(tài)館、新一代信息通信產(chǎn)業(yè)集群館、智能汽車技術館、基礎電子館等七大展館30個專業(yè)展區(qū),為業(yè)界充分展示中國電
  • 全新升級 | DCA6201-支持單波100G PAM4及50G PON眼圖測試
    全新升級 | DCA6201-支持單波100G PAM4及50G PON眼圖測試
    2023.02.26
    新年伊始,ChatGPT火爆全球,引發(fā)更高算力的需求,云基礎設施,交換機,光通信,數(shù)據(jù)中心,電信運營商都將推動算力基礎設施升級換代以適應成指數(shù)級增長的算力需求高速率光模塊需求進一步增長隨著5G時代的到來和數(shù)字化轉型的加速推進,數(shù)據(jù)中心市場的快速發(fā)展,高速光模塊市場將持續(xù)擴大,400G、800G等高速率光模塊的需求將進一步增長2022年,全球數(shù)據(jù)中心部署了超過300萬個400GbE模塊,支持112G
  • 春風三月,聯(lián)訊儀器邀請您共赴MEMS領域巔峰盛會
    春風三月,聯(lián)訊儀器邀請您共赴MEMS領域巔峰盛會
    2023.02.24
    春風三月,聯(lián)訊儀器邀請您共赴MEMS領域巔峰盛會暨第四屆中國MEMS制造大會暨微納制造與傳感器展覽會我司將于2023年3月1日-3日參展 第四屆中國MEMS制造大會暨微納制造與傳感器展覽會。我們誠摯地邀請您蒞臨現(xiàn)場,指導交流。展覽日期:2023年3月1-3日展覽及會議地點: 蘇州國際博覽中心展位號:570屆時我們會重點展出聯(lián)訊自研PXIe 精密電源/測量單元、臺式高精度精密源表,敬請期待!展會介紹
  • OFC 2023 | 聯(lián)訊儀器攜50GHz采樣示波器等產(chǎn)品亮相 展位號#6301
    OFC 2023 | 聯(lián)訊儀器攜50GHz采樣示波器等產(chǎn)品亮相 展位號#6301
    2023.02.22
    第48屆光網(wǎng)絡與通信研討會及博覽會(OFC) 將在美國加州圣地亞哥會展中心舉行。蘇州聯(lián)訊儀器股份有限公司將現(xiàn)場展示50GHz采樣示波器等產(chǎn)品。誠邀行業(yè)各位朋友蒞臨展臺觀展交流!展位號:6301參展時間:2023年3月7-9日參展地址:美國·加州·圣地亞哥會展中心
  • 聯(lián)訊儀器 | 喜獲2022年首屆“金燧獎”中國光電儀器品牌榜
    聯(lián)訊儀器 | 喜獲2022年首屆“金燧獎”中國光電儀器品牌榜
    2022.12.12
    2022年12月3日,首屆“金燧獎”中國光電儀器品牌榜召開并公布,蘇州聯(lián)訊儀器股份有限公司《30GHz寬頻帶采樣示波器:DCA6201》榮登榜單,獲評“金燧獎”銅獎。此次評選活動旨在面向國家重大戰(zhàn)略需求,突出企業(yè)的創(chuàng)新主體地位,以促動關鍵核心技術攻關,突破“卡脖子”技術發(fā)揮關鍵作用為出發(fā)點,重點評選出我國自主研發(fā)、制造生產(chǎn)的高端光電儀器,為助力我國自主研發(fā)的科學儀器搶占科技戰(zhàn)略制高點、樹立民族品牌
  • 聯(lián)訊儀器 | CoC全自動測試系統(tǒng)CT6201
    聯(lián)訊儀器 | CoC全自動測試系統(tǒng)CT6201
    2022.12.07
    半導體激光器通常根據(jù)老化前(Pre-Burn In)及老化后(Post Burn-In)測量的一個或多個關鍵運行參數(shù)的變化進行篩選,剔除早期失效,提高產(chǎn)品可靠性,這些參數(shù)通常包括閾值電流,在特定工作條件下的輸出光功率,達到特定輸出光功率所需要的電流,斜線效率以及光譜特性等等。 聯(lián)訊儀器CoC測試 聯(lián)訊儀器全自動CoC測試系統(tǒng)CT6201 ,與聯(lián)訊儀器 BI6201老化系統(tǒng)共用夾具,
  • 聯(lián)訊儀器 | CoC老化系統(tǒng)
    聯(lián)訊儀器 | CoC老化系統(tǒng)
    2022.11.30
    半導體激光器是光收發(fā)模塊核心器件,其穩(wěn)定性直接影響模塊的產(chǎn)品質(zhì)量,CoC老化測試是一種有效的剔除早期CoC產(chǎn)品失效的篩選方法。聯(lián)訊儀器CoC老化測試設備通過控制老化溫度,老化電流,老化時長等測試條件,對老化前后的激光器功率變化,閾值變化等進行評估,將產(chǎn)品設計制造中的材料缺陷,加工缺陷等及早篩選出來,提高了進入后端工序的產(chǎn)品的可靠性!
  • 聯(lián)訊儀器 | CoC分選機
    聯(lián)訊儀器 | CoC分選機
    2022.11.19
    CoC (Chip on Carrier) / CoS(Chip on Sub-mount)架構已成為二極管/激光器的流行封裝樣式。CoC 通常采用定制的waffle pack 或者Gel-Pak來運輸存儲,并在測試老化等不同工序流轉。由于CoC本身尺寸較小,在裝配運輸CoC時極易產(chǎn)生損傷,包括人工夾取過程中的機械損傷,操作過程中產(chǎn)生ESD損傷,裝配過程中引入其他材質(zhì)導致污染等等,這些情況嚴重影響產(chǎn)品的質(zhì)量及可靠性。
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