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SiC(碳化硅)晶圓級老化系統(tǒng)方案
2024.10.10?

SiC(碳化硅)晶圓級別老化的意義在于通過提前識別和消除潛在失效機制,提高最終器件的可靠性和性能穩(wěn)定性,同時降低失效率,減少售后維護成本。


老化測試有助于在生產(chǎn)過程中發(fā)現(xiàn)問題,從而提高生產(chǎn)效率,避免資源浪費。此外,具備高可靠性和穩(wěn)定性的SiC器件在市場上更具競爭力,能夠滿足對高性能和高效能電源管理日益增長的需求。


聯(lián)訊儀器晶圓級老化系統(tǒng)可提供全自動化的SiC WLBI解決方案。具備超高的老化產(chǎn)能;可以根據(jù)不同產(chǎn)品的老化需求,設置老化條件;可對每個Die閾值電壓(Vth)進行精確測試;系統(tǒng)的每個通道配備了獨立的過流保護功能,可確保被測器件的安全;系統(tǒng)可與客戶EAP對接,實現(xiàn)生產(chǎn)數(shù)據(jù)的管理;系統(tǒng)自動生成MAP數(shù)據(jù),以便用戶進行深入的性能分析和質(zhì)量控制。

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