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新品推介| 聯(lián)訊儀器雙通道高精度臺(tái)式源表S2026H

2023.11.23

?聯(lián)訊儀器雙通道高精度臺(tái)式源表S2026H，pA級(jí)電流測量精度，廣泛應(yīng)用于漏電流，暗電流等小電流的高精度測量，支持雙通道同步觸發(fā)，單臺(tái)儀表即可對(duì)完成三端口器件的高精度同步掃描測試。

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新品推介｜聯(lián)訊儀器3500V高壓精密源表S3030F

2023.11.23

功率半導(dǎo)體器件(Power Semiconductor Device)是電力電子裝置實(shí)現(xiàn)電能轉(zhuǎn)換、電源管理的核心器件，主要功能有變頻、變壓、整流、功率轉(zhuǎn)換和管理等，電壓處理范圍從幾十伏到幾千伏，電流能力最高可達(dá)幾千安培。聯(lián)訊儀器3500V 高壓源表S3030F 設(shè)計(jì)用于高壓電子和功率半導(dǎo)體器件的特性測試以及其他一些需要高壓和高精度測量的元器件和材料的表征。

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新品 | 聯(lián)訊儀器全新推出低漏電流開關(guān)矩陣RM1010-LLC

2023.05.20

在半導(dǎo)體元器件生產(chǎn)研發(fā)或者半導(dǎo)體晶圓封測過程中需要進(jìn)行電性能參數(shù)的表征，這些測量需要將精密源表(Source /Measure Unit），LCR表（LCR Meter），數(shù)字萬用表(Digital Multi-Meter）等多種精密儀器組成自動(dòng)化測試系統(tǒng)，測量非常低的電流，皮安或更小，測試系統(tǒng)中任何漏電流的存在都會(huì)對(duì)測試結(jié)果造成很大影響。聯(lián)訊儀器低漏電流開關(guān)矩陣RM1010-LLC（Low Le

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新品 | 聯(lián)訊儀器 PXIe 精密源表S2013C，高速高精度測量！

2023.04.28

聯(lián)訊儀器PXIe源測量單元(SMU)集成高精度源和測量單元，可利用PXIe源測量單元構(gòu)建高密度并行測試系統(tǒng)，以滿足大規(guī)模半導(dǎo)體集成電路的高通道密度，并增加配置的靈活性，最大化測試效率，降低測試成本。聯(lián)訊儀器PXIe SMU基于先進(jìn)的數(shù)字控制技術(shù)，集成的Adaptive PFC（Precision-Fast Control）系統(tǒng)使用戶可根據(jù)負(fù)載特性，調(diào)整相關(guān)參數(shù)來獲得精確、快速的輸出特性,

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全新升級(jí) | DCA6201-支持單波100G PAM4及50G PON眼圖測試

2023.02.26

新年伊始，ChatGPT火爆全球，引發(fā)更高算力的需求，云基礎(chǔ)設(shè)施，交換機(jī)，光通信，數(shù)據(jù)中心，電信運(yùn)營商都將推動(dòng)算力基礎(chǔ)設(shè)施升級(jí)換代以適應(yīng)成指數(shù)級(jí)增長的算力需求高速率光模塊需求進(jìn)一步增長隨著5G時(shí)代的到來和數(shù)字化轉(zhuǎn)型的加速推進(jìn)，數(shù)據(jù)中心市場的快速發(fā)展，高速光模塊市場將持續(xù)擴(kuò)大，400G、800G等高速率光模塊的需求將進(jìn)一步增長2022年，全球數(shù)據(jù)中心部署了超過300萬個(gè)400GbE模塊，支持112G

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聯(lián)訊儀器 | 喜獲2022年首屆“金燧獎(jiǎng)”中國光電儀器品牌榜

2022.12.12

2022年12月3日，首屆“金燧獎(jiǎng)”中國光電儀器品牌榜召開并公布，蘇州聯(lián)訊儀器股份有限公司《30GHz寬頻帶采樣示波器：DCA6201》榮登榜單，獲評(píng)“金燧獎(jiǎng)”銅獎(jiǎng)。此次評(píng)選活動(dòng)旨在面向國家重大戰(zhàn)略需求，突出企業(yè)的創(chuàng)新主體地位，以促動(dòng)關(guān)鍵核心技術(shù)攻關(guān)，突破“卡脖子”技術(shù)發(fā)揮關(guān)鍵作用為出發(fā)點(diǎn)，重點(diǎn)評(píng)選出我國自主研發(fā)、制造生產(chǎn)的高端光電儀器，為助力我國自主研發(fā)的科學(xué)儀器搶占科技戰(zhàn)略制高點(diǎn)、樹立民族品牌

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聯(lián)訊儀器 | CoC全自動(dòng)測試系統(tǒng)CT6201

2022.12.07

半導(dǎo)體激光器通常根據(jù)老化前（Pre-Burn In）及老化后（Post Burn-In）測量的一個(gè)或多個(gè)關(guān)鍵運(yùn)行參數(shù)的變化進(jìn)行篩選，剔除早期失效，提高產(chǎn)品可靠性，這些參數(shù)通常包括閾值電流，在特定工作條件下的輸出光功率，達(dá)到特定輸出光功率所需要的電流，斜線效率以及光譜特性等等。聯(lián)訊儀器CoC測試聯(lián)訊儀器全自動(dòng)CoC測試系統(tǒng)CT6201 ，與聯(lián)訊儀器 BI6201老化系統(tǒng)共用夾具，

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聯(lián)訊儀器 | CoC分選機(jī)

2022.11.19

CoC (Chip on Carrier) / CoS（Chip on Sub-mount）架構(gòu)已成為二極管/激光器的流行封裝樣式。CoC 通常采用定制的waffle pack 或者Gel-Pak來運(yùn)輸存儲(chǔ)，并在測試?yán)匣炔煌ば蛄鬓D(zhuǎn)。由于CoC本身尺寸較小，在裝配運(yùn)輸CoC時(shí)極易產(chǎn)生損傷，包括人工夾取過程中的機(jī)械損傷，操作過程中產(chǎn)生ESD損傷，裝配過程中引入其他材質(zhì)導(dǎo)致污染等等，這些情況嚴(yán)重影響產(chǎn)品的質(zhì)量及可靠性。

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聯(lián)訊儀器裸Die半導(dǎo)體激光器芯片測試機(jī)

2022.11.16

芯片良率是影響企業(yè)成本的重要因素之一，半導(dǎo)體激光器屬于化合物半導(dǎo)體，其主要材質(zhì)以非常脆的砷化鎵、磷化銦為主，在其制備的各個(gè)工藝環(huán)節(jié)，良品率不高是一個(gè)普遍問題。以國外知名芯片企業(yè)為例，其生產(chǎn)能達(dá)到70%以上良率，但后道封裝以及最終產(chǎn)品嚴(yán)格判定標(biāo)準(zhǔn)等累計(jì)具有30%良率的損失。良品率不高，就需要專用的測試裝備對(duì)不良品進(jìn)行篩選，

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